Неруйнівний контроль виробів електронної техніки за рівнем низькочастотного шуму

В монографії розглядаються питання неруйнівного вхідного та вихідного контролю виробів електронної техніки за рівнем власних низькочастотних шумів. Запропоновано нові шумові моделі біполярних та польових, а також інтегральних транзисторів, які враховують джерела шуму елементів схеми вмикання та зворотні зв’язки. Для підтвердження моделей було проведено експериментальні дослідження зв’язку інформативного параметра контролю з якісним показником надійності. На розроблені моделі було запропоновано засоби безпосереднього, відносного та спектрального контролю, для операцій вхідного та вихідного досліджень виробів електронної техніки